восстановление файлов магнитно-силовая микроскопия

В отличие от , с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.

Атомно-силовой микроскоп (АСМ,  AFM atomic-force microscope)  высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.

Текущая версия страницы пока опытными участниками и может значительно отличаться от , проверенной 29 февраля 2012;

Текущая версия страницы пока опытными участниками и может значительно отличаться от , проверенной 29 февраля 2012;

Материал из Википедии свободной энциклопедии

Сканирующий атомно-силовой микроскоп

Сканирующий атомно-силовой микроскоп Википедия